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PTI816 ict上IC的测试

日期:2021-09-27 14:23
浏览次数:2303
摘要:
 PTI816 ICT上IC的测试
pti816 ICT机器的IC主要有静态及动态两种测试法
静态测试法:
     1 开短路(open/short)测试法

  测试IC各脚之间的开短路来测试出IC不佳

  2,IC保护二极管测试法

  每个IC都对地和电源有一个保护反向二极管,通过测试此反向二极管来测试IC的缺件,空焊,反插等不佳现像

  3,HP TESTJET量测法(ivetp)

  HP TestJetTechnology 是量测感測应器与IC 脚框之间的电容量来偵测IC 接脚的空焊。

  1) 由于采用ReedRelay 的ScannerBoard,Guarding 能力强,因此测试效果好。

  2) 由于干扰处理能力强,因此对SMD

  Type Connector的量测相当可靠

  3) 其对IC的可测率达到95%以上

  4 IC SCAN功能测试

  此技术是我企业砖利技术,测试并聊IC的开短路.

  功能测试主要有:

  1)稳压管的稳压值测试

  2)LED的测试

  3)电机马达的测试
      4)板子的功能测试,以达到测试待测板功能
      5)数字IC的数位测试,确定逻辑关系
     6)BSCAN测试,可以无测试点测试开短路及IC功能

 PTI816ict上IC的测试

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