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jtag边界扫描测试的原理

日期:2021-06-25 22:07
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摘要:
 
       IEEE 1149.1 标准规定了一个四线串行接口(第五条线是可选的),该接口称作测试访问端口(TAP),用于访问复杂的集成电路(IC),例如微处理器、DSP、ASIC和CPLD。除了TAP之外,混合IC也包含移位寄存器和状态机,以实行边界扫描功能。在TDI(测试数据输入)引线上输入到芯片中的数据存储在指令寄存器中或一个数据寄存器中。串行数据从TDO(测试数据输出)引线上离开芯片。jtag边界扫描测试逻辑由TCK(测试时钟)上的信号计时,而且TMS(测试模式选择)信号驱动TAP控制器的状态。TRST(测试重置)是可选项。在PCB上可串行互连多个可兼容扫描功能的IC,形成一个或多个扫描链,每一个链都由其自己的TAP。每一个扫描链提供电气访问,从串行TAP接口到作为链的一部分的每一个IC上的每一个引线。在正常的操作过程中,IC实行其预定功能,就好像边界扫描电路不存在。但是,jtag边界扫描测试当为了进行测试或在系统编程而激活设备的扫描逻辑时,数据可以传送到IC中,并且使用串行接口从IC中读取出来。这样数据可以用来激活设备核心,将信号从设备引线发送到PCB上,读出PCB的输入引线并读出设备输出。




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