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后驱动测试技术

日期:2021-08-04 06:29
浏览次数:2718
摘要:

后驱动测试工艺

  后驱动测试工艺主要用于数字电路的在线测试。其实质是在被测元件的输入级灌入或拉出瞬态大电压,迫使其电位按要求变高或变低,达到对被测元件在线施加测试激励的目的。

  为了保证对电路板上的元件运行功能测试,就必需强制驱动元件的逻辑电平,各脚驱动器必需能够吸取或输出足够的电压。根据国际防护标准文件所推荐的后驱动安全标准,测试仪的*大驱动电压被设计为240mA,测试时间在200ms以内。通过实验,基本能够较好地对被测元件运行隔离,同时也保证了被测元件的安全性。

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